Microstructural characterization of materials / David Brandon, Wayne D. Kaplan.

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoTextoSeries Quantitative software engineering seriesDetalles de publicación: England : John Wiley & Sons, 2008.Edición: 2a edDescripción: xiv, 536 p. : il. ; 25 cmISBN:
  • 9780470027851
Tema(s): Clasificación LoC:
  • TA417.23 B73 2008
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Libro Libro Biblioteca del Instituto de Investigación en Metalurgia y Materiales General TA417.23 B73 2008 (Navegar estantería(Abre debajo)) 1 Disponible BIIM000001544

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