Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests [electronic resource] / by Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed.

Por: Colaborador(es): Tipo de material: Archivo de ordenadorArchivo de ordenadorDetalles de publicación: Boston, MA : Springer US, 2008.Edición: 1a edDescripción: v.: digitalISBN:
  • 9780387757285
Tema(s): Clasificación LoC:
  • TK7874  T44 2008
Recursos en línea: En: Springer eBooks
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Libro Electrónico Libro Electrónico Biblioteca Digital Colección Digital TK7874 T44 2008 (Navegar estantería(Abre debajo)) Enlace al recurso 1 Disponible SpringerLink BDIG00002753

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