TY  - BOOK
AU  - Lall,Pradeep
AU  - Pecht,Michael G.
AU  - Hakim,Edward B.
TI  - Influence of temperature on microelectronics and system reliability
SN  - 0-8493-9450-3
AV  - TK7870.25 L35 1995
PY  - 1995///
CY  - Boca Raton, Florida
PB  - CRC
KW  - Microelectronica
KW  - Materiales
KW  - Propiedades Termicas
N1  - 1 ejem; Rec. Prop. Esc; Incluye bibliografia e indice
ER  -