TY  - DATA
AU  - Brune,H.
AU  - Ernst,H.
AU  - Grunwald,A.
AU  - Grünwald,W.
AU  - Hofmann,H.
AU  - Krug,H.
AU  - Janich,P.
AU  - Mayor,M.
AU  - Rathgeber,W.
AU  - Schmid,G.
AU  - Simon,U.
AU  - Vogel,V.
AU  - Wyrwa,D.
ED  - SpringerLink (Online service)
TI  - Nanotechnology: Assessment and Perspectives 
T2  - Wissenschaftsethik und Technikfolgenbeurteilung, Schriftenreihe der Europäischen Akademie zur Erforschung von Folgen wissenschaftlich-technischer Entwicklungen Bad Neuenahr-Ahrweiler GmbH
SN  - 9783540328209
AV  - T174.7 B78 2006
PY  - 2006///
CY  - Berlin, Heidelberg
PB  - Springer-Verlag Berlin Heidelberg
KW  - Chemistry
KW  - Materials
KW  - Electronics
KW  - Nanotechnology
KW  - Electronics and Microelectronics, Instrumentation
KW  - Continuum Mechanics and Mechanics of Materials
UR  - http://dx.doi.org/10.1007/3-540-32820-3
ER  -