Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis /  
Joseph I. Goldstein ... [et al]. 
 - 3a. ed. 
 - New York :   Springer ;   c2007 
 - xix, 690 p. :   il. ;   25 cm. + 1 cd-rom (4 3/4 plg.) 
<br/><br/>Incluye referencias e índice 
<br/><br/> Rec. Esc. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9780306472923 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Física --Rayos X 
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QC481   / S23 2007