Zevin, Lev S. <br/><br/>
Quantitative X-ray diffractometry 
/ Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik 
 - 1a ed. 
 - New York :  Springer,  1987 
 - xvii, 372 p. :  il. ;  24 cm. 
<br/><br/>Bibliografía : p. 355-364 e índice 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0387945415 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>´Rayos X--Difracción<br/>Industria--Rayos X--Difracción
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QC482.D5  / Z48 1995