Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [electronic resource] / by Brent Fultz, James M. Howe.

Por: Colaborador(es): Tipo de material: Archivo de ordenadorArchivo de ordenadorDetalles de publicación: Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2008.Edición: Third EditionDescripción: v.: digitalISBN:
  • 9783540738862
Tema(s): Recursos en línea: En: Springer eBooks
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