Medida de la inteligencia : método para el empleo de las pruebas de Stanford-Binet nuevamente revisadas /
por Lewis M. Terman y Maud A. Merrill ; tr. del ing. y adapt. al cast. por Jose Germain Cebrian.
- Madrid : Espasa-Calpe, 1944
- xxviii, 506 p. ; 21 cm.