TY  - DATA
AU  - Larsson,Erik
ED  - SpringerLink (Online service)
TI  - Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
T2  - Frontiers in Electronic Testing,
SN  - 9780387256245
AV  - TK7895.E42 L37 2005
PY  - 2005///
CY  - Boston, MA
PB  - Springer
KW  - Sistemas en un chip
KW  - Pruebas
KW  - Circuitos integrados
KW  - Diseño y construcción
UR  - http://dx.doi.org/10.1007/b135763
ER  -