TY  - DATA
AU  - Tehranipoor,Mohammad
AU  - Ahmed,Nisar
ED  - SpringerLink (Online service)
TI  - Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
SN  - 9780387757285
AV  - TK7874  T44 2008
PY  - 2008///
CY  - Boston, MA
PB  - Springer US
KW  - Engineering
KW  - Circuitos integrados
KW  - Pruebas
KW  - Integración a muy gran escala
KW  - Nanotecnología
UR  - http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
ER  -